光學膜厚監控儀

HOM2 Series

高精度光學膜厚監控儀

是用于鍍制增透膜及各種(zhong)光學濾光片的(de)(de)真(zhen)空鍍膜系統的(de)(de)膜厚控(kong)制。

特征
高穩定性(xing)光纖光學系統和超低噪音電路設計，實現+0.001%超低噪音
測光方式 對應(ying)透(tou)射、反射可選
運用先進的(de)(de)成膜計算(suan)控制技術,光透過率的(de)(de)極值監控能力(li)可達+0.05%
規格
測定(ding)區分(fen) 反射式
可視域膜厚計 透過式
可視域膜厚計 反射式
近赤外域膜厚計 透過式
近赤外域膜厚計
型號 HOM2-R-
VIS350 HOM2-T-
VIS350 HOM2-R-
IR900 HOM2-T-
IR900
波長帶域 350nm ～ 1100nm 900nm ～ 2400nm
光源 鹵素燈 鹵素燈
電源 AC100V±10%, 50/60Hz