光學膜厚監控儀
HOM1-1
高精度光學膜厚監控儀
用于DWDM成(cheng)膜(mo)用真空鍍(du)膜(mo)系統的膜(mo)厚控制(zhi)。
- 特征
-
高NA值光學(xue)系(xi)統和低噪音(yin)電路設(she)計，實(shi)現(xian)低噪音(yin)，相(xiang)對值達(da)到 +0.01%
-
應用高分(fen)解能分(fen)光(guang)光(guang)學系(xi)，波長(chang)分(fen)解能達到0.08nm(1550nm)
-
使(shi)(shi)用(yong)鹵素燈光(guang)源(yuan)，使(shi)(shi)用(yong)波長范圍(wei)1100nm-1700nm
-
運用先進的成膜計算控制技術(shu),光透過率的極值(zhi)監控能力可達(da)+0.01%
- 規格
- 型號 HOM1-1
- 波長(chang)帶域 1100nm - 1700nm
- 波長分解能 0.08nm
- 光亮設(she)定分(fen)解能 0.001%
- 光源(yuan) 鹵素燈(deng)
- 電(dian)源 AC100V±10%, 50/60Hz
- 消費電力 600VA
